日本stil線陣視覺檢測系統(tǒng)MC2

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產品時間：2025-05-03

簡要描述：日本stil線陣視覺檢測系統(tǒng)MC2
MC2線陣視覺檢測系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機器視覺在表面瑕疵檢測的痛點，具有明顯的優(yōu)勢：
v 無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應性強；

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詳細說明：

日本stil線陣視覺檢測系統(tǒng)MC2

MC2線陣視覺檢測系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機器視覺在表面瑕疵檢測的痛點，具有明顯的優(yōu)勢：

v 無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應性強；
v 適應所有的物體表面，無論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面；
v 高達80KHz的掃描速度，并可實現非常低的像素尺寸(小像素可達0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內的任何一個位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進行Z軸對焦。

優(yōu)勢：
v 無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應性強；
v 適應所有的物體表面，無論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面；
v 高達80KHz的掃描速度，并可實現非常低的像素尺寸(小像素可達0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內的任何一個位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進行Z軸對焦。

日本stil線陣視覺檢測系統(tǒng)MC2

MC2四種鏡頭配置參數:
產品型號		MC2-701-N1	MC2-702-N1	MC2-703-N1	MC2-704-N1	MC2-705-N1	MC2-706-N1	MC2-707-N1	MC2-708-N1
示例	unit	NanoView 2K	NanoView 4K	MicroView 2K	MicroView 4K	DeepView 2K	DeepView 4K	WireView 2K	WireView 4K
線長	mm	1.35		1.8		4		1.5
景深	µm	100		500		2600		900
工作距離	mm	4.6		10		47.8		7.8
放大率		17.3		12.5		5.6		15.6
數值孔徑		0.7		0.5		0.35		0.75
大樣本斜率	°	40		30		20		46
樣本像素大小	µm	0.82	0.41	1.12	0.56	2.5	1.23	0.9	0.45
光學頭: 長度	mm	413.8	393.3	402.6	382.1	422.9	403.9	457.7	437.2
光學頭: 直徑	mm	50		50		75		70
光學頭: 重量	g	-	-	-	-	-	-

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